在專利布局分析中，對技術主題進行解析，建立全面完整的技術分解體系，將有助于相關專利數據的前期檢索，同時也為形成高價值專利的有效布局提供重要保障。技術分解體系構建得完整與否，直接關系著企業最終專利保護的效果，因此這是十分重要的。在分析技術主題，構建技術分解體系時，可以考慮專利分類號進行技術分解。 

常用的專利分類號包括：IPC（國際專利分類）、CPC（聯合專利分類）、FI/F--Term（日本專利分類）等。

其中以IPC分類法應用最為廣泛，包含約69000個細分分類號，按技術領域分為部門、大類、小類、大組、小組等不同等級。

CPC專利聯合分類是在IPC國際專利分類基礎上更為細分的分類體系，其更是包含了約26萬個細分的分類號，并且在IPC八個部級分類領域的基礎上增加了一個（Y部）的分類，用于新興產業技術和交叉的跨領域技術等。

在FI/F--Term中，FI分類包含大約200，000個子類別，F--Term分類包含大約340，000個子類別。分類細致和立體化多角度是FI/F--Term分類他體系的特點。 

除了主要分類編號外，還有其他商業數據庫專利分類標準，如德溫特分類代碼DC和德溫特手工代碼MC等，也可以作為建立技術分解體系的參考。